檢漏儀z*小可檢漏率(即儀器靈敏度)與在檢漏過程中能夠達(dá)到的靈敏度(即檢漏靈敏度)是不完全相同的。倒如，氦質(zhì)譜檢漏儀的靈敏度都是在一定的、不接被檢件的z*佳化條件下測出的，而在具體使用中能夠達(dá)到的檢漏靈敏度則與被檢件的實(shí)際狀況以及檢漏方法有很大關(guān)系。當(dāng)然，當(dāng)使用條件相同時，一般講，那些靈敏度高的儀器能達(dá)到較高的檢漏靈敏度。但是，并不是高靈敏度的檢漏方法和儀器在任何時候都能達(dá)到z*好的效果，即達(dá)到z*好的檢漏靈敏度。
選擇什么樣的檢漏儀器和方法，z*重要的是要求能達(dá)到一定的檢漏靈敏度。
檢漏靈敏度，即確定被檢件z*大允許的總(或單個漏孔的)漏率時，要以滿足設(shè)計、安裝、運(yùn)輸?shù)囊鬄樵瓌t。通常，靈敏度較高的方法能可靠地檢出所存在的漏孔，但就檢漏工作而言，提高對檢漏靈敏度的要求，意味著要用高靈敏度的儀器和方法，勢必使設(shè)備和運(yùn)轉(zhuǎn)費(fèi)用增加。
圖13-39給出靈敏度的增加與設(shè)備運(yùn)轉(zhuǎn)容易程度間的關(guān)系(對于某種檢漏方法而言)。這種曲線有一個平壩區(qū)(z*佳工作區(qū))，超過這個區(qū)域，使靈敏度提高或降低，但會使運(yùn)轉(zhuǎn)的容易程度急劇下降。例如打氣試漏法，對于檢示大于10Pa·L/s的漏孔時，會由于氣體迅速放出，被檢件內(nèi)的充氣壓力急劇下降，使檢漏工作造成困難。而在檢示小于10^ - Pa· L/s的漏孔時，會由于形成氣泡時間過長，使檢測交得困難。再如質(zhì)譜檢漏法，當(dāng)采用動態(tài)檢漏時，靈敏度低，操作容易，反應(yīng)時間與清除時間小。而在采用靜態(tài)檢漏時，靈敏度高，但運(yùn)轉(zhuǎn)困難，費(fèi)時間。
檢漏靈敏度高的方法和儀器，其設(shè)備費(fèi)和運(yùn)轉(zhuǎn)費(fèi)用也是高昂的，如圖13-40所示。對于同一種方法和儀器，提高靈敏度需要增加附加的設(shè)備和復(fù)雜的操作程序，檢驗(yàn)費(fèi)用自然也就增加。在圖13-39曲線平壩區(qū)右端，運(yùn)轉(zhuǎn)容易程度下降，運(yùn)轉(zhuǎn)時間加長，都引起成本的增加。
