影響質(zhì)譜計(jì)分辨本領(lǐng)及峰形因素包括：
①四極桿系結(jié)構(gòu)及加工安裝精度。四極桿長(zhǎng)L的增加，使離子在四極場(chǎng)經(jīng)歷足夠多的高頻周期數(shù)，得到充分分離。因此可提高儀器的分辨本領(lǐng)。
從對(duì)公式(12-48)中的口全微分后可以得到AM /M=2Aro/ro關(guān)系式。因此，高精度的桿系加工和裝配，可確保高分辨本領(lǐng)的獲褥。
②高頻電壓頻率高，增加離子在四極場(chǎng)經(jīng)歷高頻周期數(shù)，可提高分辨本領(lǐng)。
③離子源入口條件。選用尼爾型電子碰撞離子源，具有z*小的離子能量分散，可獲得高分辨本領(lǐng)。離子源入口孔徑應(yīng)限制在一定范圍內(nèi)，確保高分辨本領(lǐng)的獲得。此外，離子源裝配及離子引入和四極場(chǎng)同軸度的精度影響分辨本領(lǐng)和峰形。
④調(diào)節(jié)質(zhì)量掃描線(xiàn)斜率，即增加U/V的比值。從穩(wěn)定三角形看出，隨著質(zhì)量掃描線(xiàn)斜率增加，掃描線(xiàn)通過(guò)三角形的區(qū)域△q減小，因此處于△q的對(duì)應(yīng)質(zhì)量數(shù)為△M的穩(wěn)定的離子也減小，分辨本領(lǐng)M /△M增加。理論上掃描線(xiàn)的斜率為a/q=0.16784。分辨本領(lǐng)趨向無(wú)窮，但在實(shí)際儀器參數(shù)調(diào)節(jié)時(shí)，過(guò)于增加斜率，可導(dǎo)致靈敏度迅速下降和峰形畸變。因此利用調(diào)節(jié)質(zhì)量掃描線(xiàn)斜率的方法提高分辨本領(lǐng)，只能根據(jù)不同儀器進(jìn)行折衷選擇，并通過(guò)實(shí)驗(yàn)確定z*佳參數(shù)。
⑤離子引入能量的選擇。離子引入能量低，可增加離子在分析場(chǎng)經(jīng)歷的高頻周期數(shù)，達(dá)到提高分辨本領(lǐng)的目的，但同時(shí)靈敏度下降。
